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专利名称：光学特性测量装置和光学式位移计专利类型：发明专利发明人：岩波孝志,柳原英次申请号：CN200310104631.X申请日：20031031公开号：CN1499185A公开日：20040526
摘要：本发明揭示一种光学特性测量装置和光学式位移计，可在测量入射激光的光学特性的光学特性测量装置和应用其原理的光学式位移计中，用简易的光学系统测量各种光学特性。其中光学特性测量装置(1A)具有半导体激光发光元件产生的激光(L0)以利用准直透镜形成平行光的状态入射的开口(11)、配置在此开口(11)的出射光路由上的并且由棱镜组成的分光器(12)、接收此棱镜(12)的透射反射膜透射出来的光的第1位置检测元件(21)(第1面状光检测器)和接收棱镜(12)的透射反射膜反射出来的光的第2位置检测元件(22)(第2面状光检测器)。
申请人：株式会社三协精机制作所
地址：日本长野县诹访郡
国籍：JP
代理机构：上海专利商标事务所
代理人：包于俊
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